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Prix Visible

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P4.1.4.4 Redressement d'une tension alternative avec des diodes avec CASSY
P4.1.5.1 Etudes des propriétés de diodes des jonctions d'un transistor
P4.1.5.2 Tracé des caractéristiques d'un transistor
P4.1.5.3 Tracé des caractéristiques d'un transistor à effet de champ
P4.1.5.4 Tracé des caractéristiques d'un transistor avec CASSY
P4.1.5.5 Tracé des caractéristiques d'un transistor à effet de champ avec CASSY
P4.1.6.1 Transistor en tant qu'amplificateur
P4.1.6.2 Transistor en tant que commutateur
P4.1.6.3 Transistor en tant que générateur d'ondes sinusoïdales (oscillateur)
P4.1.6.4 Transistor en tant que générateur de fonctions
P4.1.6.5 Transistor à effet de champ en tant qu'amplificateur
P4.1.6.6 Transistor à effet de champ en tant que commutateur
P4.1.7.1 Tracé de la caractéristique d'un phototransistor branché comme une photodiode
P4.1.7.2 Montage d'une ligne de transition optique
P4.2.2.1 Amplificateur opérationnel vierge (comparateur)
P4.2.2.2 Amplificateur opérationnel inverseur
P4.2.2.3 Amplificateur opérationnel non-inverseur
P4.2.2.4 Sommateur et soustracteur
P4.2.2.5 Différentiateur et intégrateur
P4.5.1.1 Enchaînements ET, OU, OU-exclusif, NON, et NON-ET à deux variables
P4.5.1.2 Lois de Morgan
P4.5.1.3 Fonctions de trois variables
P4.5.2.1 Fonctions AND, NAND, OR et OU-exclusif de quatre variables
P4.5.2.3 Multiplexeur et démultiplexeur
P4.5.2.4 Sommateur
P4.5.2.5 Bascule
P4.5.2.6 Compteur
P4.5.2.7 Registre à décalage
P4.5.3.1 Convertisseur Numérique / Analogique et Analogique / Numérique
P5.1.1.1 Réflexion de la lumière sur des miroirs plans et courbes
P5.1.1.2 Réfraction de la lumière par des surfaces planes et étude de la marche des rayons
à travers des prismes et des lentilles
P5.1.2.1 Détermination de la distance focale de lentilles convexes et concaves
pour des rayons lumineux parallèles à l'axe de ces lentilles
P5.1.2.2 Détermination par autocollimation de la distance focale de lentilles convexes
P5.1.2.3 Détermination de la distance focale de lentilles convexes selon la méthode de Bessel
P5.1.2.4 Vérification de la loi des lentilles avec une lentille convexe
P5.1.3.1 Aberration sphérique pour une projection avec une lentille
P5.1.3.2 Astigmatisme et courbure de champ pour une projection avec une lentille
P5.1.3.3 Distorsion en coussin et en barillet pour une projection avec une lentille
et défaut de coma
P5.1.3.4 Aberration chromatique pour une projection avec une lentille
P5.1.4.1 Loupe et microscope
P5.1.4.2 Lunette astronomique de Kepler et de Galilée
P5.2.1.1 Determinación del índice de refracción y determinación de la dispersión en vidrio Flint
y en vidrio sin plomo
P5.2.1.2 Détermination de l'indice de réfraction et de dispersion de liquides
P5.2.3.2 Démonstration du mélange additif des couleurs
P5.2.3.3 Démonstration du mélange soustractif des couleurs
P5.2.4.3 Spectres d'absorption de verres teintés - Tracé et exploitation
avec un spectrophotomètre
P5.2.4.4 Spectres d'absorption et de fluorescence de liquides teintés - Tracé et exploitation
avec un spectrophotomètre
P5.2.4.5 Spectres d'absorption de fibres optiques PMMA - Tracé et exploitation
avec un spectrophotomètre
P5.2.5.1 Spectres de réflexion sur différents matériaux - Tracé et exploitation
avec un spectrophotomètre
P5.3.1.1 Diffraction par une fente, par un trait et par un diaphragme à trou circulaire
P5.3.1.2 Diffraction par une fente double et par des fentes multiples
P5.3.1.3 Diffraction par des réseaux croisés à une et à deux dimensions
P5.3.1.4 Diffraction par une fente simple - tracé et évaluation avec CASSY
P5.3.1.5 Diffraction par une fente double et par des fentes multiples
tracé et évaluation avec CASSY
P5.3.1.9 Étude de la cohérence spatiale d'une source lumineuse étendue
P5.3.2.1 Interférence sur le miroir de Fresnel avec un laser He-Ne
P5.3.2.2 Expérience avec le miroir de Lloyd à l'aide d'un laser He-Ne
P5.3.2.3 Interférence sur le biprisme de Fresnel avec un laser He-Ne
P5.3.3.1 Les anneaux de Newton par transmission avec une lumière monochromatique
P5.3.3.2 Les anneaux de Newton par transmission et réflexion avec une lumière blanche
P5.3.4.1 Montage d'un interféromètre de Michelson sur la plaque de base pour optique laser
P5.3.4.2 Détermination de la longueur d'onde d'un faisceau laser He-Ne
à l'aide d'un interféromètre de Michelson
P5.3.4.3 Détermination de la longueur d'onde d'un faisceau laser He-Ne
à l'aide d'un interféromètre de Michelson - montage sur un banc d’optique
P5.3.4.4 Détermination de la cohérence temporelle et de la largeur de la raie spectrale
à l'aide de l'interféromètre de Michelson
P5.3.4.5 Etude de l'amplification de raies spectrales en fonction de la pression
à l'aide d'un interféromètre de Michelson
P5.3.4.6 Détermination du dédoublement de deux raies spectrales
à l'aide d'un interféromètre de Michelson
P5.3.5.1 Montage d'un interféromètre de Mach-Zehnder sur la plaque de base pour optique laser
P5.3.5.2 Mesure de l'indice de réfraction de l'air à l'aide d'un interféromètre de Mach-Zehnder
P5.3.5.3 Détermination de la longueur d'onde d'un faisceau laser He-Ne
à l'aide d'un interféromètre de Fabry-Perot
P5.3.6.1 Réalisation d'hologrammes en lumière blanche par réflexion sur la plaque de base
pour optique laser
P5.3.7.1 Réalisation d'hologrammes par transmission sur la plaque de base pour optique laser
P5.4.1.1 Polarisation de la lumière par réflexion sur une plaque en verre
P5.4.1.2 Lois de la réflexion selon Fresnel
P5.4.1.3 Polarisation de la lumière par diffusion dans une émulsion
P5.4.1.4 Loi de Malus

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